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Piezoresponse force microscopy : ウィキペディア英語版
Piezoresponse force microscopy

Piezoresponse force microscopy (PFM) is a variant of atomic force microscopy (AFM) that allows imaging and manipulation of ferroelectric domains. This is achieved by bringing a sharp conductive probe into contact with a ferroelectric surface (or piezoelectric material) and applying an alternating current (AC) bias to the probe tip in order to excite deformation of the sample through the converse piezoelectric effect (CPE). The resulting deflection of the probe cantilever is detected through standard split photodiode detector methods and then demodulated by use of a lock-in amplifier (LiA). In this way topography and ferroelectric domains can be imaged simultaneously with high resolution.
==Basic principles==


抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア(Wikipedia)
ウィキペディアで「Piezoresponse force microscopy」の詳細全文を読む



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